© Copyright – 頂赫興業股份有限公司
design by Morcept
GRAND HOLD.
GRAND HOLD.
GRAND HOLD.
GRAND HOLD.
GRAND HOLD.
WAFER TESTING
半導體測試加熱常見問題
半導體與晶圓測試對溫度控制極為敏感,常因載具結構複雜與熱傳不均造成局部溫差與熱漂移。這些問題影響量測穩定性並增加校正成本。
TECHNICAL HIGHLIGHTS
技術亮點
均溫設計
透過導熱材料配置,使加熱片整體溫度分佈更一致,降低中心與邊緣的熱差。
客製功率
針對不同測試區域設定功率輸出,依照元件特性或載具結構調整加熱強度。
CONSULT NOW





