半導體測試加熱方案

GRAND HOLD.
GRAND HOLD.
GRAND HOLD.
GRAND HOLD.
GRAND HOLD.

WAFER TESTING

半導體測試加熱常見問題

半導體與晶圓測試對溫度控制極為敏感,常因載具結構複雜與熱傳不均造成局部溫差與熱漂移。這些問題影響量測穩定性並增加校正成本。

HEATING DESIGNS

晶圓測試加熱設計

針對晶圓測試載具與模組夾具進行客製化設計,
可緊密貼合金屬表面以確保整體加熱均勻,
並支援多區功率分佈,有效降低熱漂移並提升測試穩定性。

TECHNICAL HIGHLIGHTS

技術亮點

均溫設計

透過導熱材料配置,使加熱片整體溫度分佈更一致,降低中心與邊緣的熱差。

客製功率

針對不同測試區域設定功率輸出,依照元件特性或載具結構調整加熱強度。

CONSULT NOW

立即聯繫諮詢半導體加熱解決方案